良品画像だけあればAIで不良品判別ができる!?
ELFEの新機能で異常検知がよりカンタンに!
ーELFE on AWSー

AI(機械学習・深層学習)による検査の自動化は「省人化」や「コスト削減」の解決策として期待されています。
これまで日本の製造現場では、技術力の高さから不良品があまり検出されず、不良品の画像収集が難しく、画像判別AIを活用する際のハードルの一つとなっていました。
ELFEではこの課題を解決のため、良品画像を学習させるだけで不良品を判別するAIモデルの生成機能を追加いたしました。
本セミナーでは、ELFEの本新機能を中心にご紹介いたします。

開催日時
2022年09月14日(水) 16:00 ~ 17:00
申込締切日
申し込みは終了しました。
定員
500名 ※定員を超えた時点で受付終了
受講方法
Zoomによるウェビナー

セミナーに予約する(無料)

セミナー詳細

1、ソニーネットワークコミュニケーションズセッション
  ・半教師学習について
  ・活用できるシーンについて

2.ソニービズネットワークスセッション
  画像判別AIソリューション ELFE on AWS 概要
  ・クラウド上で画像判別AIを展開するメリット
  ・提供形態、無料トライアルパック紹介

3.なんでもQA
  ・ZoomのQA機能にいただいたご質問に対し、講師が回答いたします

対象

・製造管理/生産管理に携わる方
・AIでの画像判別や検品の試用を検討している方

そのほか

※ 講演内容は一部変更となる場合があります。

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